X射線膜厚儀——金東霖利用X射線熒光的非接觸式的無(wú)損測(cè)試技術(shù)*地應(yīng)用于微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存工業(yè)中的金屬薄膜測(cè)量?？梢酝瑫r(shí)測(cè)量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測(cè)量厚度可以從埃（?）至微米（um），它也能測(cè)量多至20個(gè)元素的塊狀合金成份。此儀器結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
如果您需要一臺(tái)出色、準(zhǔn)確可靠的測(cè)量?jī)x器，BA 100 是您正確的選擇。

X射線膜厚儀——金東霖規(guī)格描述：
1 X射線激發(fā)系統(tǒng)：垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)。
2 快速、精確的分析：大面積正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和博曼儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供*靈敏度
3 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)：可同時(shí)裝配4種規(guī)格的準(zhǔn)直器。
4 的*穩(wěn)定性：自動(dòng)熱補(bǔ)償功能測(cè)量?jī)x器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果 
5 例行進(jìn)行簡(jiǎn)單快速的波譜校準(zhǔn)：可自動(dòng)檢查儀器性能（例如靈敏性）并進(jìn)行必要的修正，堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)，可在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作。 
6 簡(jiǎn)單的元素區(qū)分：通過(guò)次級(jí)射線濾波器分離元素的重疊光譜，性能優(yōu)化
7 可分析的元素范圍大：預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
8 測(cè)厚范圍可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用，基本分析功能采用基本參數(shù)法校正。
9 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)