二手膜厚測試儀利用X射線熒光的非接觸式的無損測試技術(shù)*地應(yīng)用于微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜測量?？梢酝瑫r測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測量厚度可以從埃（?）至微米（um），它也能測量多至20個元素的塊狀合金成份。此儀器結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
如果您需要一臺出色、準(zhǔn)確可靠的測量儀器，BA 100 是您正確的選擇。

二手膜厚測試儀軟件包括 ：
（1）X射線部件的操作 
（2）控制整個測量過程 
（3）*的基本參數(shù)法可進行無標(biāo)準(zhǔn)片測量 
（4）用受認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片進行校準(zhǔn)，可以完成有標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校的測量 
（5）可以同時分析材料成分和測量計算鍍層厚度 
（6）按照元素波峰進行自動元素識別 
（7）測量值可以以karat, wt% 或 ‰表示 
（8）客戶自定義報表工具